基于March＋C-算法的单片机存储器测试

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上传时间：2023-09-14 10:30:07
文档格式：PDF电子书
资料分类：电子信息书籍

摘要：为了保证单片机系统的可靠性，对单片机内嵌存储畧的测试显得尤为重要，根据MCS- 51系列单片机系统内嵌存储器的結构特点和故障模型，研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题，首次提出将March C一算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF 故障，具有较高的故障覆盖率，适合于对用户级MCS-51系列单•片机存储器的测试。

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